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矽片厚度測量儀

簡要描述：矽片厚度測量儀(yi) SIT-200由精確可調激光光源，聚焦傳(chuan) 感器，光學接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標上，由目標表麵和背麵反射光幹涉形成幹涉圖案，經過聚焦傳(chuan) 感器後由光學探測器進行檢測。

  • 產品型號：SIT-200
  • 更新時間：2025-03-12
  • 訪  問  量：1003

產(chan) 品簡介

品牌其他品牌價格區間麵議
組件類別其他應用領域電子/電池

詳細介紹

矽片厚度測量儀(yi) SIT-200

矽片厚度測量儀(yi) （SIT-200）由精確可調激光光源，聚焦傳(chuan) 感器，光學接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標上，由目標表麵和背麵反射光幹涉形成幹涉圖案，經過聚焦傳(chuan) 感器後由光學探測器進行檢測。


矽片厚度測量儀(yi) SIT-200產(chan) 品特點：

l  全光學，非接觸矽片厚度測試

l  高動態範圍測量粗糙表麵

l  濕法刻蝕過程中實時測量

高靈敏度         高精度           快速測量        遠程控製


結構示意圖

SIT-200

產(chan) 品參數：

測量目標  

矽片  

測量厚度  

10-500μm

光源  

1515-1585nm掃描

功率  

0.6mw，Class1

指示光源  

紅光，Class1M

測量時間  

20ms

重複性  

0.1μm

輸出監控  

幹擾信號（電學）  

PC接口

網口  

供電  

100-240V，50/60Hz

尺寸  

364 x 147 x 391mm

重量  

9kg




產(chan) 品谘詢

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