磁光克爾效應磁滯回線測量儀

磁光克爾效應磁滯回線測量儀(yi) 產(chan) 品簡介

從(cong) 當下主流的機械硬盤，到未來的磁性存儲(chu) 單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質的重要手段。 相較於(yu) 電學霍爾測量和震動磁強計，光磁克爾效應具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進行加工或切片等操作的特點。通過對磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結構，磁光克爾測量可以分析出逐層的磁滯回線信息。

上海屹持光電提供的磁滯回線測量儀(yi) 標準係統按照性能優(you) 先，穩定性優(you) 先的設計思路，可以滿足實驗室研究及工業(ye) 生產(chan) 中各種磁性薄膜材料的測試需求。針對不同磁各向異性材料的光學響應，我們(men) 提供兩(liang) 種測試組件：PMA Checker 以及 IMA Looper，兩(liang) 種係統共享一套數據采集係統，切換方便。“控製盒+光磁主體(ti) +電腦"的套裝（如上圖所示）即是完整的設備，無需任何外置儀(yi) 表（電源，鎖相放大器）客戶即可快速完成磁滯回線的測量；此外，客戶可以自主選擇使用鎖相放大器（SR830/810，Zurich MFLI）進行數據采集，該設備預留了與(yu) 鎖相放大器匹配的接口。

該磁滯回線測量儀(yi) 產(chan) 品提供基於(yu) LabView的程序，方便客戶快速上手。基於(yu) C，Python的控製程序也可應客戶要求提供。

磁光克爾效應磁滯回線測量儀(yi) 應用案例

➢ 自旋/磁電子學
➢ 磁性納米技術
➢ 非易失性磁性隨機存儲(chu) 器
➢ 磁阻研究
➢ 磁性薄膜

➢ 磁性傳(chuan) 感器

右圖測試樣品結構（Si 襯底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3)  （厚度為(wei) 納米，X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf ）

磁滯回線測量儀(yi) 技術參數

1  更大磁場強度可按需定製
2  該尺寸不包含光學及電學連接器伸出的部分

該係統的定位是為(wei) 客戶提供穩定、快捷、磁滯回線測量設備，簡單並且可靠。如需更多附加功能，例如：磁疇成像，微區測量，集成溫控設備，集成電學測量設備，集成樣品掃描成像等選項，我們(men) 建議客戶考慮 TTT-Mag-Kerr Microscope 係列產(chan) 品。