法國Phasics SID4係列波前分析儀

法國PhasicsSID4係列波前分析儀(yi)

                  -----四波橫向剪切幹涉波前傳(chuan) 感器

產(chan) 品介紹：法國Phasics SID4係列波前分析儀(yi) （上海屹持光電代理），基於(yu) 其波前測量——四波橫向剪切幹涉技術（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為(wei) 夏克-哈特曼技術的改進型，這種*的技術將超高分辨率和超大動態範圍結合在一起。任何應用下，其都能實現全麵、簡便、快速的測量。

主要應用領域：

1.       激光光束參數測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德係數

2.       自適應光學：焦斑優(you) 化，光束整形

3.       元器件表麵質量分析：表麵質量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑

4.       光學係統質量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克係數, 光學鏡頭/係統質量控製

5.       熱成像分析，等離子體(ti) 特征分析

6.       生物應用：蛋白質等組織定量相位成像

產(chan) 品特點：

1.       高分辨率：zui多采樣點可達120000個(ge)

2.       可直接測量：消色差設計，測量前無需再次對波長校準

3.       消色差：幹涉和衍射對波長相消

4.       高動態範圍：高達500μm

5.       防震設計，內(nei) 部光柵橫向剪切幹涉，對實驗條件要求簡單，無需隔震平台也可測試

 型號參數：

四波橫向剪切幹涉技術背景介紹

Phasics四波橫向剪切幹涉（上海屹持光電代理）：當待測波前經過波前分析儀(yi) 時，光波通過特製光柵（圖1）後得到一個(ge) 與(yu) 其自身有一定橫向位移的複製光束，此複製光波與(yu) 待測光波發生幹涉，形成橫向剪切幹涉，兩(liang) 者重合部位出現幹涉條紋（圖2）。被測波前可能為(wei) 平麵波或者匯聚波，對於(yu) 平麵橫向剪切幹涉，為(wei) 被測波前在其自身平麵內(nei) 發生微小位移發生微小位移產(chan) 生一個(ge) 複製光波；而對於(yu) 匯聚橫向剪切幹涉，複製光波由匯聚波繞其曲率中心轉動產(chan) 生。幹涉條紋中包含有原始波前的差分信息，通過特定的分析和定量計算梳理（反傅裏葉變換）可以再現原始波前（圖3）。

         圖1.特製光柵                                                                                              圖2.幾何光學描述波前畸變

圖3. 波前相位重構示意圖

技術優(you) 勢

1.       高采樣點：

高達400*300個(ge) 采樣點，具備強大的局部畸變測試能力，降低測量不準確性和噪聲；同時得到高精度強度分布圖。

2.       消色差：

幹涉和衍射相結合抵消了波長因子，幹涉條紋間距與(yu) 光柵間距*相等。適應於(yu) 不多波長光學測量且不需要重複校準，

3.       可直接測量高動態範圍波前：

可見光波段可達500μm的高動態範圍；可測試離焦量，大相差，非球麵和複曲麵等測。

               圖4.測試對比圖                                                圖5. 消色差                                               圖6.高動態範圍測量

應用方向：

1.       激光光束測量

可以實時測量強度相位（2D/3D）信息，Zernike/Legendre係數，遠場，光束參數，光束形狀M2等。

2光學測量

Phasics波前傳(chuan) 感器可對光學係統和元器件進行透射和反射式測量，專(zhuan) 業(ye) Kaleo軟件可分析PSF,MTF等

3.光學整形：

利用Phasics波前傳(chuan) 感器檢測到精確的波前畸變信息，反饋給波前校正係統以補償(chang) 待測波前的畸變，從(cong) 而得到目標波前相位分布和光束形狀。右圖上為(wei) 把一束RMS=1.48λ的會(hui) 聚光矯正為(wei) RMS=0.02λ的準平麵波；右圖下為(wei) 把分散焦點光斑矯正為(wei) 準高斯光束。高頻率大氣湍流自適應需要配合高頻波前分析儀(yi) 。

4.光學表麵測量：

  Phasics的SID4軟件可以直接測量PtV, RMS, WFE和曲率半徑等，可直接進行自我校準，兩(liang) 次測量相位作差等。非常方便應用於(yu) 平麵球麵等形貌測量。部分測量光路如右圖所示

5.等離子體(ti) 測量

法國Phasics公司SID4係列等離子體(ti) 分析儀(yi) (Plasma Diagnosis)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的等離子體(ti) 分析儀(yi) 器。該產(chan) 品可實時檢測激光產(chan) 生的等離子體(ti) 的電子密度、模式及傳(chuan) 播方式。監測等離子體(ti) 的產(chan) 生、擴散過程，以及等離子體(ti) 的品質因數。更好地為(wei) 客戶在噴嘴設計、激光脈衝(chong) 的照度、氣壓、均勻性等方麵提供*化的數據支持。

附：夏克哈特曼和四波橫向剪切幹涉波前分析儀(yi) 對比表

betway精装版下载作為(wei) 法國Phasics中國區域代理商，*您為(wei) 提供服務！

波前分析儀(yi) (波前傳(chuan) 感器)相關(guan) 產(chan) 品

>> 法國Phasics SID4係列波前分析儀(yi)

>> Phasics SID4 NIR波前傳(chuan) 感器

>> Phasics SID4-UVHR波前傳(chuan) 感器

>> Phasics SID4-Swir波前傳(chuan) 感器

>> Phasics SID4-HR高分辨波前傳(chuan) 感器

>> Phasics SID4 UV波前傳(chuan) 感器

>> Phasics SID4-Dwir波前傳(chuan) 感器

>> phasics SID4 IR-MCT波前傳(chuan) 感器

>> phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前傳(chuan) 感器

>> phasics SID4係列 波前分析儀(yi)

>> 夏克-哈德曼波前分析儀(yi) WFS Shack-Hartmann波前傳(chuan) 感器