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品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 電子/電池 |
詳細介紹
metrolux BM3745 UV/VIS激光光束質量儀(yi)
metrolux激光光束分析儀(yi) 可測量激光強度分布,範圍包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直徑從(cong) 1µm - 100 mm,可按EN-ISO標準記錄和分析光束。
具有適合於(yu) 分析光斑和光束位置以及用於(yu) 均勻激光光束特點描述的各種軟件工具,可選附件便於(yu) 協調脈衝(chong) 激光器和單脈衝(chong) 的測量。
機械部分采用特殊表麵細化、光學部分采用光學增透膜把雜散光減小到zui小的優(you) 化探測頭。
VIS/NIR激光光束分析儀(yi) UV激光光束分析儀(yi)
基於(yu) 激光光束分析儀(yi) 的“光束檢測”的CCD相機,被優(you) 化適合於(yu) 低輸出功率的連續和脈衝(chong) 激光器準直光束分析,大部分VIS/NIR波長範圍的激光,可用此係統典型分析,例如Nd:YAG或者半導體(ti) 激光器通常使用此係統分析。
光束質量分析儀(yi) 包含Beamlux II軟件、標準攝像頭及附件如中性密度濾光片組合和可快速建立測量的設備,使用這些可選配件,係統也可用於(yu) 高功率激光束和焦點直徑小於(yu) 10µm的測量。
產(chan) 品特點:
基於(yu) ML3745UV傳(chuan) 感器CCD
高級版BeamLux II光束質量分析軟件
允許脈衝(chong) 激光器同步
UV中性密度濾光鏡組
BM3745 UV/VIS激光光束質量儀(yi) 產(chan) 品參數:
波長: 193 - 1100 nm
功率: <100mW
傳(chuan) 感器類型: CCD2/3"
有效麵積: 7.4X7.4mm2
分辨率: 7.5µm
軟件: Beamlux II高級版
光束類型: 原始發散光
光斑大小: 74µm-5mm
接口: IEEE1394 irewire
工作距離: 17.5mm
重量: 300g
產(chan) 品應用:光斑大小、發散角、近場、遠場、光束指向穩定性、功率、均勻性
產(chan) 品谘詢