UVM10 -UV光束質量分析儀

UVM10 -UV光束質量分析儀(yi)

 metroluxUVM10 -UV光束質量分析儀(yi) 可測量激光強度分布，範圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從(cong) 1µm - 100 mm，可按EN-ISO標準記錄和分析光束。

    具有適合於(yu) 分析光斑和光束位置以及用於(yu) 均勻激光光束特點描述的各種軟件工具，可選附件便於(yu) 協調脈衝(chong) 激光器和單脈衝(chong) 的測量。

    機械部分采用特殊表麵細化、光學部分采用光學增透膜把雜散光減小到zui小的優(you) 化探測頭。

    VIS/NIR激光光束分析儀(yi)  UV激光光束分析儀(yi)

    基於(yu) 激光光束分析儀(yi) 的“光束檢測”的CCD相機，被優(you) 化適合於(yu) 低輸出功率的連續和脈衝(chong) 激光器準直光束分析，大部分VIS/NIR波長範圍的激光，可用此係統典型分析，例如Nd:YAG或者半導體(ti) 激光器通常使用此係統分析。

    光束質量分析儀(yi) 包含Beamlux II軟件、標準攝像頭及附件如中性密度濾光片組合和可快速建立測量的設備，使用這些可選配件，係統也可用於(yu) 高功率激光束和焦點直徑小於(yu) 10µm的測量。

產(chan) 品參數 ：

可用的UV轉換窗口片： K2、K6、k7、K8

波長：                            1 - 360 nm

轉換器：                          可選

功率：                             <10W

傳(chuan) 感器類型：                 CCD2/3"

軟件：                           Beamlux II高級版

光束類型：                    原始發散光

光斑大小：                   <56X44mm2

能量密度：                  <50mJ/cm2

接口：                        IEEE1394

工作距離：                 取決(jue) 於(yu) 轉換窗口片

可選型號：

UVM10-S ：   探測麵積 12 x 9 mm²
UVM10-M：   探測麵積23 x 17 mm²
UVM10-L：    探測麵積30 x 25 mm²
UVM10-XL：   探測麵積 44 x 33 mm²
UVM10-XXL ： 探測麵積50 x 40 mm²

不同的型號尺寸有差別，其他大小探測器麵積請谘詢我們(men) ！

產(chan) 品應用：光斑大小、發散角、近場、遠場、光束指向穩定性、功率、均勻性

轉換窗口片：

 窗扣片的功能為(wei) 把紫外光和紅外光轉換為(wei) 可見光進入光束質量分析儀(yi) 進行分析，材料轉換指標如下：

                                                                              窗口片材料

                                                                           可選尺寸